ANSI/INCITS/ISO/IEC 2382-36-2010 信息技术.词汇.第36部分:学习,教育和培训

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 21:13:40   浏览:8003   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Informationtechnology-Vocabulary-Part36:Learning,educationandtraining
【原文标准名称】:信息技术.词汇.第36部分:学习,教育和培训
【标准号】:ANSI/INCITS/ISO/IEC2382-36-2010
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2010
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:继续培训;数据处理;定义(术语);电子数据处理(EDP);教育;远程教育;电子的;形成;继续教育;信息技术;多语种的;术语学;培训
【英文主题词】:Continuationtraining;Dataprocessing;Definitions;EDP;Education;E-learning;Electronic;Formations;Furthereducation;Informationtechnology;Multilingual;Terminology;Training
【摘要】:ISO/IEC2382-36:2008isintendedtofacilitateinternationalcommunicationininformationtechnologyforlearning,educationandtraining.Itpresents,intwolanguages,termsanddefinitionsofselectedconceptsrelevanttothefieldofinformationtechnologyforlearning,educationandtraining,andidentifiesrelationshipsamongtheentries.
【中国标准分类号】:L70
【国际标准分类号】:01_040_35;35_020
【页数】:
【正文语种】:英语


下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordieproducts-Part3:Recommendationsforgoodpracticeinhandling,packingandstorage
【原文标准名称】:半导体压模产品.第3部分:搬运、包装和储存的良好实施推荐规程
【标准号】:IEC/TR62258-3-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:应用;组装件;芯片;无菌室;无菌技术;组件;连接件;消费者与供货者的关系;污染;损伤;交付;电气工程;电子工程;电子设备及元件;环境;环境条件;环境试验;搬运;集成电路;长时存储;制造;作标记;材料;运输方法;包装件;人员;生产;保护措施;半导体器件;半导体;货运容器;规范(验收);储存时间;储存;可追踪性;使用;薄片
【英文主题词】:Applications;Assemblies;Chips;Cleanrooms;Clean-roomtechnology;Components;Connections;Consumer-supplierrelations;Contamination;Damage;Delivery;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentalcondition;Environmentalconditions;Environmentaltesting;Handling;Integratedcircuits;Long-timestorage;Manufacturing;Marking;Materials;Meansoftransport;Packages;Personnel;Production;Protectivemeasures;Semiconductordevices;Semiconductors;Shippingcontainers;Specification(approval);Storage;Storagetime;Storages;Traceability;Use;Wafers
【摘要】:Thistechnicalreporthasbeendevelopedtofacilitatetheproduction,supplyanduseofsemiconductordieproducts,including:–wafers,–singulatedbaredie,–dieandwaferswithattachedconnectionstructures,and–minimallyorpartiallyencapsulateddieandwafers.Thisreportcontainssuggestedgoodpracticeforthehandling,packingandstorageofdieproducts.Successinmanufactureofelectronicassembliescontainingdieproductsisenhancedbyattentiontohandling,storageandenvironmentalconditions.Thisreportprovidesguidelinestakenfromindustryexperienceandisespeciallyusefultothoseintegratingdieproductsintoassembliesforthefirsttime.Itisalsointendedasanaidtosettingupandauditingfacilitiesthathandleorusebaredieproducts,fromwaferfabricationtofinalassembly.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:114P.;A4
【正文语种】:


基本信息
标准名称:响度评定值的客观测量方法
替代情况:替代YD/T 719-1994
发布部门:中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:2011-05-18
实施日期:2011-06-01
首发日期:
作废日期:
出版社:人民邮电出版社
出版日期:2011-06-01
适用范围

本标准规定了响度评定值的客观测量方法,包括具体的测试条件和方法、灵敏度/频率特性的测量、响度评定值的计算等。
本标准适用于语音通信终端响度评定值的测量。

前言

没有内容

目录

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类: 矿业 有色金属矿 贵金属矿 采矿和矿产品 金属矿 其他金属矿