IEC 60747-5 AMD 1-1994 半导体器件.分立器件和集成电路.第5部分:光电器件.第1次修改

作者:标准资料网 时间:2024-05-14 20:32:11   浏览:8130   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevicesandintegratedcircuits-Part5:Optoelectronicdevices;Amendment1
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件和集成电路.第5部分:光电器件.第1次修改
【标准号】:IEC60747-5AMD1-1994
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1994-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47C
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光电子器件;电子设备及元件;集成电路;电气工程;半导体器件;术语
【英文主题词】:semiconductordevices;integratedcircuits;terminology;electricalengineering;electronicequipmentandcomponents;optoelectronicdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:101P.;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Rubber,vulcanized-Determinationoftensionfatigue.
【原文标准名称】:硫化橡胶.抗拉疲劳的测定
【标准号】:NFT46-021-2007
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2007-10-01
【实施或试行日期】:2007-10-26
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;测定;延伸;疲劳;疲劳测试;疲劳试验;数学计算;耐力;橡胶;抗拉测试;试件;试样;测试;硫化橡胶
【英文主题词】:Definition;Definitions;Determination;Elongation;Fatigue;Fatiguetesting;Fatiguetests;Mathematicalcalculations;Resistance;Rubber;Tensiletesting;Testpieces;Testspecimens;Testing;Vulcanizedrubber
【摘要】:
【中国标准分类号】:G34
【国际标准分类号】:83_060
【页数】:21P;A4
【正文语种】:其他


【英文标准名称】:
【原文标准名称】:O型密封圈的保护圈
【标准号】:JISB2407-1977
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1977-03-01
【实施或试行日期】:1977-03-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环形密封圈;封闭工艺;注油环;背面;填料(密封件)
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J22
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】: